Santec 圣德科 TSL550 可調(diào)諧激光器，波長(zhǎng)范圍覆蓋1480~1640nm（C+L波段），適用于光通信測(cè)試和器件表征。具有高輸出功率（≥10dBm）、窄線寬（100kHz）和優(yōu)異的波長(zhǎng)穩(wěn)定性（±1pm）。支持掃描模式（最大20nm/s）和外部調(diào)制，配備GPIB/USB接口，廣泛應(yīng)用于光纖傳感、WDM系統(tǒng)測(cè)試及光學(xué)元件研發(fā)。

Santec 圣德科 TSL510 可調(diào)諧激光器，適用于光通信、傳感及器件測(cè)試。波長(zhǎng)范圍覆蓋1520-1630nm（C+L波段），輸出功率高達(dá)+13dBm，具有高波長(zhǎng)精度（±0.5pm）和窄線寬（100kHz）。支持掃描模式（最大20nm/s）和外部調(diào)制，配備GPIB/USB接口。廣泛應(yīng)用于DWDM、光纖傳感、光器件研發(fā)等領(lǐng)域，兼容SMF-28光纖，是高性能光測(cè)試系統(tǒng)的核心模塊。

Agilent 安捷倫 81657A 點(diǎn)光源 激光源模塊一款高靈敏度光功率計(jì)傳感器模塊，適用于光通信測(cè)試。其波長(zhǎng)范圍為800-1700nm，測(cè)量精度達(dá)±3%，支持-70dBm至+10dBm的寬動(dòng)態(tài)范圍。采用模塊化設(shè)計(jì)，兼容Keysight光功率計(jì)主機(jī)，適用于光纖網(wǎng)絡(luò)維護(hù)、器件測(cè)試及研發(fā)應(yīng)用。標(biāo)配FC/PC接口，可選USB/GPIB通信，具有快速響應(yīng)和低噪聲特性，滿足高精度光功率測(cè)量需求。

Agilent 安捷倫 81656A 點(diǎn)光源 激光源模塊波長(zhǎng)范圍覆蓋1520-1630nm（C+L波段），分辨率達(dá)0.1pm，輸出功率最高+13dBm。支持內(nèi)置波長(zhǎng)計(jì)校準(zhǔn)，具有優(yōu)異的頻譜純度（-80dBc）和低相位噪聲。兼容Keysight模塊化光測(cè)試平臺(tái)，適用于DWDM系統(tǒng)測(cè)試、光器件表征及相干通信研究。提供GPIB/USB控制接口，典型應(yīng)用包括光濾波器測(cè)試和光纖傳感系統(tǒng)校準(zhǔn)。

Agilent 安捷倫 81949A 可調(diào)激光源，適用于光通信測(cè)試領(lǐng)域。其波長(zhǎng)范圍覆蓋800-1700nm，具備高精度（±3%）和快速響應(yīng)特性，支持-70dBm至+10dBm的寬動(dòng)態(tài)范圍。采用模塊化設(shè)計(jì)，可兼容Agilent/Keysight主流光功率計(jì)主機(jī)，適用于器件測(cè)試、系統(tǒng)維護(hù)及研發(fā)場(chǎng)景。標(biāo)配FC/PC接口，提供USB和GPIB通信接口選項(xiàng)，典型應(yīng)用包括光纖網(wǎng)絡(luò)檢測(cè)和光器件性能評(píng)估。

TEKTRONIX 泰克 80C14 光接口測(cè)試模塊是一款高性能數(shù)字示波器，具備100MHz帶寬和1GS/s采樣率，適用于高速信號(hào)分析。其緊湊設(shè)計(jì)配備7英寸觸摸屏，支持多種觸發(fā)模式和自動(dòng)測(cè)量功能，可快速捕獲復(fù)雜波形。提供USB和LAN接口，便于數(shù)據(jù)傳輸和遠(yuǎn)程控制，廣泛應(yīng)用于電子研發(fā)、教育及工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域。

泰克 80C07B 采樣示波器 光接口測(cè)試模塊 推出的一款高性能電流探頭，專為精確測(cè)量動(dòng)態(tài)電流信號(hào)設(shè)計(jì)。其帶寬達(dá)50MHz，支持±50A峰值電流測(cè)量，適用于開關(guān)電源、電機(jī)驅(qū)動(dòng)等應(yīng)用。采用低噪聲霍爾效應(yīng)技術(shù)，提供高精度和快速響應(yīng)，并兼容主流示波器。輕巧便攜的設(shè)計(jì)便于集成到測(cè)試系統(tǒng)中，是電力電子和嵌入式系統(tǒng)調(diào)試的理想工具。

80C11B 泰克 采樣示波器 光接口測(cè)試模塊，具備11 GHz帶寬和40 GS/s采樣率，適用于高速信號(hào)分析。其采用低噪聲設(shè)計(jì)和高分辨率ADC，確保精準(zhǔn)測(cè)量。支持多種觸發(fā)模式和自動(dòng)分析功能，可快速捕捉復(fù)雜波形。緊湊便攜，適合實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，廣泛應(yīng)用于通信、半導(dǎo)體和科研領(lǐng)域。